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lnGaAs线阵扫描相机C15333-10E

InGaAs相机

SWIR(短波红外)成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料,并提供安全便捷的方法来保证产品质量,包括检查包装中的液体质量,检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外,还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。
主要特征 
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产品特点
- sWIR高灵敏度,覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
典型应用
·大视场高分辨率,1024像素线阵
产品特征
·高行频输出,最大线路速率:40 kHz
标准模块光学参数
型号/model C15333-10E
有效像素数 1024(H)× 1(V)
像素尺寸 12.5 um (H)× 12.5 um (V)
有效面积 12.8 mm (H)× 0.0125 mm (v)
满阱容量 Gain 0:4.0 M electronsGain 1: 0.76 M electrons
Gain 2: 0.16 M electronsGain 3: 0.051 M electrons
读出速度 Internal mode: 40 kHz (21 us exposure time)
Sync readout: 40 kHz
曝光时间 21 us to 1 s (1 us step)
外部触发输入 Sync readout
外部触发信号路径 12 pin SMA or HIROSE connector
图像处理功能 Background subtraction Real time shading correction
接口 Gigabit Ethernet
A/D转换器 14 bit
镜头卡口 C mount
电源 DC12 V
量子效率 above 60 (1100 nm ~ 1600 nm)
功耗 6 w max.
推荐环境工作温度 0 C to +40 ℃
环境储存温度 -10 ℃ to +50 ℃
环境工作湿度 30 to 80 (with no condensation)
环境储存湿度 90 max.(with no condensation)
成像器件 lnGaAs line sensor
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