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偏振相关损耗测试仪│PDL-201
PDL测试仪
采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可获得最精确的PDL值。
主要特征
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产品特点
. 30 ms的测量速度
典型应用
·较宽的波长范围
产品特征
-PDL测量精度高
标准模块光学参数
参数 | 主要参数信息 |
---|---|
PDL-201 | |
波长 | 1260-1620 nm |
分辨率 | 0.01 dB |
PDL精确度1 2 3 | ±(0.01 + 5 of PDL)(dB) |
PDL重复性1 | ±(0.005+ 2 of PDL)(dB) |
PDL动态范围4: | 0 to 45 dB |
IL精确度1 2 3 | ±(0.01 + 5 of lL)(dB) |
IL重复性1 | ±(0.005 dB + 2 of lL)(dB) |
IL动态范围4 | 0 to 45 dB |
输入光功率 | -40 to 6 dBm |
光功率精度 | ±0.25 dB |
波长校准(功率测量) | 1260-1360 nm ; 1440-1620 nm |
测量速度 | 30 ms/次(input -30 dBm) |
操作温度 | 0 to 50℃ |
存储温度 | -20 to 70°C |
光连接器类型 | 光源、DUT输入:APC |
DUT输出:自由空间适配器 | |
模拟输出 | 0-4V PDL监控电压(用户自定义PDL范围) |
(0-3.5V PDL线性变化 4V指示低功率) | |
电源供应 | 100-240VAC 50-60Hz |
通讯接口 | USB Ethernet RS-232 and GPIB |
尺寸 | 2U 19”半架宽度3.5"(H)× 8.5"(W)×14"(L) |