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偏振相关损耗测试仪│PDL-201

PDL测试仪

采用专利最大最小搜索技术,PDL测试仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度,可获得最精确的PDL值。
主要特征 
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产品特点
. 30 ms的测量速度
典型应用
·较宽的波长范围
产品特征
-PDL测量精度高
标准模块光学参数
参数 主要参数信息
PDL-201
波长 1260-1620 nm
分辨率 0.01 dB
PDL精确度1 2 3 ±(0.01 + 5 of PDL)(dB)
PDL重复性1 ±(0.005+ 2 of PDL)(dB)
PDL动态范围4: 0 to 45 dB
IL精确度1 2 3 ±(0.01 + 5 of lL)(dB)
IL重复性1 ±(0.005 dB + 2 of lL)(dB)
IL动态范围4 0 to 45 dB
输入光功率 -40 to 6 dBm
光功率精度 ±0.25 dB
波长校准(功率测量) 1260-1360 nm ; 1440-1620 nm
测量速度 30 ms/次(input -30 dBm)
操作温度 0 to 50℃
存储温度 -20 to 70°C
光连接器类型 光源、DUT输入:APC
DUT输出:自由空间适配器
模拟输出 0-4V PDL监控电压(用户自定义PDL范围)
(0-3.5V PDL线性变化 4V指示低功率)
电源供应 100-240VAC 50-60Hz
通讯接口 USB Ethernet RS-232 and GPIB
尺寸 2U 19”半架宽度3.5"(H)× 8.5"(W)×14"(L)
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联系方式
  • 地址:中国江苏苏州工业园区唯新路69号
  • 手机: 131-5115-6068
  • 电话: +86-512-67626449
  • 传真: +86-512-67626449
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